將調(diào)整好的隔離開(kāi)關(guān)觸指壓力測(cè)試儀的模擬觸頭在需要測(cè)量的觸指與觸頭接觸線(xiàn)處，用手握住手柄使前端張開(kāi)至規(guī)定值，此時(shí)測(cè)試儀液晶上顯示兩組數(shù)字，一組是隨模擬觸頭感受壓力的大小顯示瞬時(shí)值，隨著壓力值的微小變化，數(shù)值都有變化;另一組跟蹤模擬觸頭感受壓力的峰值壓力顯示并自動(dòng)鎖定。整個(gè)測(cè)量采樣過(guò)程最多記錄為3分鐘，此過(guò)程中，觀察液晶顯示數(shù)據(jù)，大約3-5秒測(cè)試完成后，當(dāng)用戶(hù)發(fā)現(xiàn)測(cè)量值基本穩(wěn)定后，按一下【確定】鍵完成測(cè)量。此時(shí)數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)存儲(chǔ)到SD卡中。此時(shí)屏幕提示是否打印數(shù)據(jù)，

隔離開(kāi)關(guān)觸指壓力測(cè)試儀操作指導(dǎo)書(shū)

如果需要打印，則按一下【確定】鍵即可;或者按一下向下鍵→【確定】鍵，選擇重新再次測(cè)試。

不同的隔離開(kāi)關(guān)模擬觸頭的調(diào)試：

測(cè)量時(shí)將調(diào)整好模擬觸頭，放入待測(cè)觸指中，使模擬觸頭張開(kāi)限定位置為止，這時(shí)高壓隔離開(kāi)關(guān)觸指壓力測(cè)試儀上顯示的讀數(shù)即為該觸頭的接觸壓力。

測(cè)量時(shí)將模擬觸頭尺寸調(diào)整到大于靜觸頭1mm左右，如靜觸頭直徑為Φ40mm，則需調(diào)整41mm。一只手使緩慢地使模擬觸頭張開(kāi)，另一只手抓住靜觸頭晃動(dòng)，如果靜觸頭能在觸指中輕松滑動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)，這時(shí)壓力測(cè)試儀上顯示的讀數(shù)即為該觸頭的接觸壓力。注意模擬觸頭的張開(kāi)速度應(yīng)該很緩慢。

為了測(cè)量準(zhǔn)確和方便，可裝配定位件，它能上下和前后定位。將測(cè)試頭對(duì)準(zhǔn)接觸線(xiàn)后，調(diào)整固定定位件的螺栓。

高壓隔離開(kāi)關(guān)觸指壓力測(cè)試儀是有專(zhuān)為折臂式、剪刀式隔離開(kāi)關(guān)而研制的專(zhuān)用壓力傳感器，它適用于折臂式、剪刀式隔離開(kāi)關(guān)在制造廠、供電公司工廠化檢修車(chē)間或安裝、檢修現(xiàn)場(chǎng)的壓力控制和檢驗(yàn)。

控制面板說(shuō)明：

1.測(cè)試壓力顯示器：隨傳感器感受的壓力大小顯示瞬時(shí)值。

2.峰值壓力顯示器：顯示測(cè)試過(guò)程中的大值，并自動(dòng)鎖定。

3.傳感器插座：插接模擬觸頭連接線(xiàn)。

4.預(yù)置鍵：包括“設(shè)置"、“增加"、“減少"，制造廠用于檢測(cè)儀標(biāo)定參數(shù)用，用戶(hù)不使用此預(yù)置鍵。

5.“清除"鍵：測(cè)量前傳感器在自由狀態(tài)下，按“清除"鍵一次，使儀器測(cè)試壓力歸零。

6.“確認(rèn)"鍵：用于測(cè)試過(guò)程中，清除峰值壓力顯示值。

7.電源開(kāi)關(guān)、電源插座：提供檢測(cè)儀電源。

高壓隔離開(kāi)關(guān)觸指壓力測(cè)試儀的測(cè)量前準(zhǔn)備：

1.確定需要測(cè)量隔離開(kāi)關(guān)觸頭的接觸面寬度b(用游標(biāo)卡尺)。

2.根據(jù)觸頭寬度b，調(diào)整模擬觸頭的寬度a，使a=b。

模擬觸頭在不增加任何附件時(shí)的調(diào)整范圍為40-50mm。

主要用于觸頭寬度≤50㎜的隔離開(kāi)關(guān)。

按照所配附件上標(biāo)明的數(shù)值進(jìn)行更換，可使模擬觸頭的寬度在50-90mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。主要用于觸頭寬度在50-90mm的隔離開(kāi)關(guān)。

該儀器若改變模擬觸頭的形式，也可測(cè)量斷路器的觸頭壓力。

上述各種原因造成的缺陷，可分為兩大類(lèi)

（1）集中性缺陷。如絕緣子的瓷質(zhì)開(kāi)裂；發(fā)電機(jī)的絕緣局部磨損；電纜絕緣的氣隙在電壓作用下發(fā)生局部放電。

（2）分布性缺陷。指電氣設(shè)備的整體絕緣性能下降。如發(fā)電機(jī)，套管等絕緣中的有機(jī)材料受潮，老化，變質(zhì)等。

絕緣內(nèi)部的缺陷存在，降低了電氣設(shè)備的絕緣水平，我們可以通過(guò)試驗(yàn)的方法，把隱藏的缺陷檢查出來(lái)。試驗(yàn)方法一般分兩類(lèi)： 

（1）非破壞性試驗(yàn)。是指在較低的電壓下，或在不破壞絕緣的基礎(chǔ)上測(cè)量各種特性，從而判斷絕緣內(nèi)部的缺陷。實(shí)踐證明，這類(lèi)方法是有效的，但由于試驗(yàn)電壓較低，缺陷不能充分暴露，目前還不能只靠它判斷絕緣水平。 

（2）破壞性試驗(yàn)，或稱(chēng)耐壓試驗(yàn)。這類(lèi)試驗(yàn)對(duì)絕緣的考驗(yàn)是嚴(yán)格的，特別是能揭露那些危險(xiǎn)性較高的集中性缺陷。通過(guò)這類(lèi)試驗(yàn)，能保證絕緣有一定的水平和裕度，其缺點(diǎn)是有可能在試驗(yàn)中給被試設(shè)備的絕緣造成損傷。但目前仍是絕緣試驗(yàn)中的一項(xiàng)主要方法。

為了避免破壞性試驗(yàn)對(duì)絕緣的損傷，破壞性試驗(yàn)要在非破壞性試驗(yàn)之后進(jìn)行。